Тайлинг изображений для детекции дефектов: баланс между мелкими и крупными объектами

Автор описывает эксперименты с тайлингом (нарезкой снимков на фрагменты) для улучшения детекции мелких дефектов на производственных изображениях. В статье анализируется, как этот метод помогает находить мелкие повреждения, но одновременно ухудшает распознавание крупных объектов, и приводятся выводы из попыток оптимизировать этот процесс.