Сравнение Mask R-CNN и YOLO: почему метрики скрывают провалы в обнаружении мелких дефектов

Исследование на базе 1812 производственных снимков демонстрирует, что стандартные метрики качества могут вводить в заблуждение, маскируя неспособность моделей обнаруживать мелкие дефекты. Автор проводит сравнительный анализ архитектур Mask R-CNN и YOLO, выявляя критические различия в их эффективности для задач визуального контроля качества.